1個回復(fù)

• 匿名

  結(jié)構(gòu)（Configuration）

  
  

  描述： 結(jié)構(gòu)測試是參照對比被試器件總體結(jié)構(gòu)的基準照片、草圖或圖紙。測試中應(yīng)包括關(guān)鍵尺寸、各組成零件的位置、以及有關(guān)的材料和工藝細節(jié)。參照文件應(yīng)是現(xiàn)行使用的，以便能反映出在結(jié)構(gòu)方面已批準的任何變化。

  
  

  應(yīng)用范圍：微電子器件。

  
  

  外部和內(nèi)部目視圖片：

  
  

  

  

  
  

  外部和內(nèi)部目視設(shè)備圖片：

  
  

  

  2025年07月03日 16:11