分立器件失效分析報告
日期：2023-07-31 13:59:02 瀏覽量：1735 作者：創芯在線檢測中心
綜上測試分析（F2）樣品失效是由于 EOS/ESD 損傷導致，由于 F1 樣品與 F2 樣品失效均表現短路，因此，進一步分析推測樣品失效均可能是由于過壓導致產品被擊穿造成 EOS損傷引起失效。
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日期：2023-07-31 13:59:02 瀏覽量：1735 作者：創芯在線檢測中心
綜上測試分析（F2）樣品失效是由于 EOS/ESD 損傷導致，由于 F1 樣品與 F2 樣品失效均表現短路，因此，進一步分析推測樣品失效均可能是由于過壓導致產品被擊穿造成 EOS損傷引起失效。
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