ESD失效分析報告：P6SMB36CA測試
日期：2021-08-18 14:28:20 瀏覽量：10472 作者：創芯在線檢測中心
產品名稱:ESD 抑制器
產品型號：P6SMB36CA
收樣日期:2021.08.04
分析時間:2021.08.04-2021.08.11
樣品數量編號:共收到 2pcs 樣品,良品編號為 G1 不良品編號為 F1
分析項目:外觀檢測、X-Ray 檢測、SAT 檢測
分析環境條件：常溫 25±5oC，濕度 30~65% RH
分析依據：GJB548B-2005 微電子器件實驗方法和程序 方法 5003 微電路失效分析程序
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測試結果:
根據應用端描述與綜上測試結果分析 F1 可能是高溫焊接和封裝體受潮內部進入水汽而 引起失效。
A. 失效分析步驟
1 失效現象描述：
GE5 燈板上電測試時報 P 故障（故障提示燈閃爍），測試 P-SW1,P-SW2 位置開關后，發現 P-SW2 的輸 入電壓異常：2.2V (正常 3.5V)。
2 分析過程：
2.1、外觀檢測：
外觀檢測 2 片（G1&F1）樣品，發現 G1&F1 表面絲印不一致，未發現樣品表面有破損等異常現象。
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2.2、X-Ray 檢測：
X-Ray 檢測 2 片（G1&F1）樣品，發現 G1&F1 的內部結構不一致。
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2.3、SAT 檢測：
SAT 檢測 2 片（G1&F1）樣品，發現 F1 的 Paddle 表面與塑封料之間有分層，F1 的 T-scan 有異常現象； G1 未發現分層空洞等異常現象。
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3. 綜合分析及結果：
測試結果：
外觀檢測 2 片（G1&F1）樣品，發現 G1&F1 表面絲印不一致，未發現樣品表面有破損等異常現象。 X-Ray 檢測 2 片（G1&F1）樣品，發現 G1&F1 的內部結構不一致。 SAT 檢測 2 片（G1&F1）樣品，發現 F1 的 Paddle 表面與塑封料之間有分層，F1 的 T-scan 有異常現象。 G1 未發現分層空洞等異常現象。
分析結論
根據應用端描述與綜上測試結果分析 F1 可能是高溫焊接和封裝體受潮內部進入水汽而引起失效。
改善措施;
1.優化產品的使用環境, 注意高溫高濕條件的應用；
2. 優化產品的封裝可靠性；
