NDT是無損檢測的英文(Non-destructivetesting)縮寫。是指對材料或工件實施一種不損害或不影響其未來使用性能或用途的檢測手段。通過使用NDT,能發現材料或工件內部和表面所存在的缺欠,能測量工件的幾何特征和尺寸,能測定材料或工件的內部組成、結構、物理性能和狀態等。廣泛用于金屬材料、非金屬材料、復合材料及其制品以及一些電子元器件的檢測。


在無損檢測領域工業CT檢測和X射線檢測,這兩種檢測方式都是利用了X射線來探測物體的內部。工業CT即工業計算機斷層掃描成像,它能在對檢測物體無損傷條件下,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式,清晰、準確、直觀地展示被檢測物體的內部結構、組成、材質及缺損狀況。X-ray成像檢測機的工作原理,主要是使用X-ray射線的穿透作用,X-ray射線波長很短,能量特別大,照在物質上時,物質只能吸收一小部分,而大部分X-ray射線的能量會從物質原子的間隙中穿過去,表現出極強的穿透能力。關于X-ray射線的吸收不同


無損檢測定義為在不損壞試件的條件下,以物理或化學方法為手段,借助先進的技術和設備器材,對試件的內部及表面的結構,性質,狀態進行檢查和測試的方法。無損檢測技術在工業上有非常廣泛的應用,如航空航天、核工業、武器制造、機械工業、造船、石油化工、鐵道和高速火車、汽車、鍋爐和壓力容器、特種設備、以及海關檢查等等。那么,無損檢測技術的應用特點有哪些呢?


在半導體短缺的市場行情下,越來越多的假冒芯片開始在電子領域流通。這將給更多的電子產品帶來質量風險,并嚴重損害制造商和用戶的利益。散新是行業黑話,通常指沒有原包裝的芯片,也會用來代指流水線中因質量問題被淘汰的芯片以及翻新芯片。也有些二手翻新芯片能用于新設備,只是消費級芯片使用周期在5年左右,如果翻新后使用,使用壽命和性能參數上會大打折扣。芯片里的“翻新貨”質量怎樣?常見的翻新貨手段又有哪些?如果您對本文即將要涉及的內容感興趣的話,那就繼續往下閱讀吧。


當今,隨著科技的進步,電子制造技術也日益發達,集成化程度越來越高,工序越來越多,結構也越來越精細,制造工藝越來越復雜,錯綜復雜的因素必然會導致在制造過程中隱藏著缺陷,作為電子產品競爭廠家,不斷地保證其性能的高精準性,也要保證其質量的穩定性。因此對它進行相關的檢驗也是必要的,那么為什么要做老化試驗呢?


隨著電子技術的發展,電子產品的集成化程度越來越高,結構越來越細微,工序越來越多,制造工藝越來越復雜,這樣在制造過程中會產生一些潛伏缺陷。高低溫交變濕熱試驗機適用于電工、電子、儀器儀表、汽車電器、電子零部件材料等產品,在高低溫環境條件下貯存和使用的適應性,適用于學校,工廠,軍工,科研,等單位,來檢測各種電子元氣件在高低溫或濕熱環境下的各項性能指標。高低溫試驗是產品可靠性的必測項目,那么高低溫測試影響產品可靠性的因素有哪些?為幫助大家深入了解,本文將對高低溫測試的相關知識予以匯總。


近日,德國慕尼黑工業大學的科學家設計并制造了一種可有效應用后量子密碼的計算機芯片,并且通過人工智能程序來重構芯片功能,以測試芯片內植木馬的可驗證性。


失效分析是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及,它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。電子元器件技術的快速發展和可靠性的提高奠定了現代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。


電子信息技術是當今新技術革命的核心,電子元器件是發展電子信息技術的基礎。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是電子信息技術應用的必要保證。電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數漂移、非穩定失效等。為了促進電子信息技術的進一步發展,就要提高電子元器件的可靠性,所以就必須了解電子元器件失效的機理、模式以及分析技術等。


在全球芯片短缺之前,“假芯片”的問題一直存在,只不過人們并沒有過多關注。事實上,這也不是是第一次因為芯片的供應鏈中斷,而引發起大量假冒產品的現象。最近有媒體報道稱,國內最大的電子市場存在假芯片、翻新芯片等問題,原因在于國內對芯片的需求強烈,一些無良商家借此炒作,坑害了廠家和消費者,這凸顯了國內市場對芯片需求的迫切需求。

