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隨著芯片結構的不斷復雜化，芯片產品在研制、生產和使用中發生失效成為不可避免的挑戰。失效分析在解決這些問題中扮演著至關重要的角色，而X射線檢測作為一種常規而有效的分析手段，在失效分析中發揮著關鍵的作用。

2024-05-13 17:18:15

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電子元器件的失效大多數是由于體內和表面的各種物理化學變化所引起，而不管是軍用產品還是民用產品，篩選都是保證可靠性的重要手段。本文將探討半導體分立器件二極管的篩選測試項目，旨在深入了解這些測試項目的重要性以及對產品性能的影響。通過精確的篩選測試，可以確保二極管的一致性和可靠性，為電子設備的正常運行提供穩定的基礎。

2024-05-13 17:18:11

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超聲波掃描SAT與X-Ray有什么區別？ 在同一實驗室內，SAT與X-Ray是相互補充的方法手段，它們主要的區別在于展現樣品的特性不同： X-Ray能觀察樣品的內部，主要是基于材料密度的差異。X-Ray對于分層的空氣不是非常的敏感，裂紋和虛焊難以通過X-Ray被觀察到，除非材料有足夠的物理上的分離。

2024-05-11 11:43:16

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高低溫環境試驗是一種常見的測試方法，用于評估產品在極端溫度條件下的性能和可靠性。這種試驗可以幫助制造商確定產品在極寒或極熱環境中的適用性，并識別潛在的問題和設計缺陷。本文將介紹高低溫環境試驗的種類、影響和擺放要求。

2024-05-11 11:00:00

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在當今高科技時代，芯片已經成為幾乎所有電子設備的核心。隨著芯片的復雜性不斷增加，如何確保其性能的可靠性成為了一個關鍵問題。下面我們將探討幾種確保芯片性能可靠性的重要方法。

2024-05-10 13:32:22

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冷熱沖擊試驗箱（又名高低溫沖擊試驗箱）是一種用于測試產品耐受能力的設備，通過不斷變換溫度，檢測產品是否出現受損情況，產生的熱效應和冷卻效應都會模擬各種極端場景中的氣候變化。在研制階段可用于發現產品設計和工藝缺陷，也可用于環境應力篩選，剔除產品的早期故障，試驗的嚴苛程度取決于高低溫范圍、駐留時間、溫度轉換時間、循環數等因素。 那么使用高低溫沖擊試驗箱需要注意什么呢？

2024-05-10 13:32:17

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HAST高加速壽命測試是一種通過模擬惡劣環境條件來評估產品可靠性的重要工具。這種測試方法通過施加高溫、高濕和高壓的條件，加速產品的老化過程，從而在短時間內檢測產品的性能和耐久性。在當今競爭激烈的市場中，產品的可靠性已經成為消費者選擇的重要因素。因此，HAST高加速壽命測試成為了許多行業不可或缺的測試手段。

2024-05-09 14:58:55

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在電力電子領域，IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）芯片扮演著至關重要的角色，其在各種功率電子設備中的應用廣泛。為了確保IGBT芯片的可靠性和穩定性，在其設計和制造過程中需要進行嚴格的測試，其中冷熱沖擊測試是至關重要的環節之一。冷熱沖擊測試旨在模擬IGBT芯片在實際應用中可能遇到的極端溫度變化情況，從而評估其在各種環境條件下的性能和可靠性。

2024-05-08 13:58:50

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HAST高加速壽命測試，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實現對產品加速老化的一種試驗方法。廣泛用于PCB、IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗，用于評估產品密封性、吸濕性及老化性能。

2024-05-08 13:58:35

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汽車作為集先進機械與電子技術于一體的產品，其安全性、穩定性和可靠性無疑是核心要素。車規級芯片，作為汽車的“心臟”，其性能直接牽動著汽車的整體性能表現。因此，對車規級芯片進行全面且嚴格的測試，不僅是確保汽車質量的必要手段，更是保障行車安全的關鍵環節。

2024-05-07 15:15:52

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