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引腳平面度是指IC芯片引腳與芯片表面之間的平整度，它對(duì)IC芯片的電氣性能和可靠性有著重要的影響。IC 芯片的成功制造和安裝需要嚴(yán)格的質(zhì)量控制，其中引腳平面度檢測(cè)是一項(xiàng)關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)。在這篇文章中，我們將探討 IC 芯片引腳平面度檢測(cè)的重要性以及專注元器件領(lǐng)域的檢測(cè)技術(shù)。

2023-06-19 17:11:41

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RoHS 是指歐盟委員會(huì)于 2003 年頒布的《關(guān)于在電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令》(Restriction of the Use of Certain Hazardous Substances in Electronic and Electrical Equipment)。該指令要求在歐洲市場(chǎng)上銷(xiāo)售的電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)，其中包括六價(jià)鉻。

2023-06-16 14:48:35

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激光焊接是一種先進(jìn)的焊接技術(shù)，已成為電子行業(yè)中常用的焊接方法之一。其優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)是靠高能密度激光束瞬間熔化被焊接件表層并凝固，從而實(shí)現(xiàn)焊接的目的。下面我們來(lái)詳細(xì)了解激光焊接在電子行業(yè)的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

2023-06-16 14:48:23

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鹽霧測(cè)試是電工電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試中常用的方法之一，可以評(píng)估產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下的耐受能力和可靠性。鹽霧測(cè)試評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)是評(píng)估測(cè)試結(jié)果的重要依據(jù)，因此需要根據(jù)產(chǎn)品的實(shí)際情況和測(cè)試目的，選擇合適的評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。本文將圍繞鹽霧測(cè)試評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的選定展開(kāi)討論。

2023-06-16 14:48:14

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電子元器件是現(xiàn)代科技發(fā)展的重要組成部分，而電子元器件的制造中，鐳射焊接技術(shù)已經(jīng)成為了不可替代的一種工藝。它采用激光束對(duì)電子元器件進(jìn)行焊接，具有高精度、高效率、高質(zhì)量等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于電子制造行業(yè)。那么，電子元器件鐳射焊接的原理是什么？下面我們來(lái)詳細(xì)了解一下。

2023-06-15 14:29:20

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鹽霧試驗(yàn)是一種測(cè)試材料抗鹽霧能力的實(shí)驗(yàn)方法，常用于測(cè)試材料的耐腐蝕性能，其評(píng)估結(jié)果對(duì)于材料和產(chǎn)品的品質(zhì)控制和質(zhì)量保障具有至關(guān)重要的意義。鹽霧試驗(yàn)的結(jié)果受許多因素的影響，如試驗(yàn)方法、試驗(yàn)環(huán)境等，同時(shí)也會(huì)受到一些原因的影響，導(dǎo)致試驗(yàn)結(jié)果不合格。本文將介紹影響鹽霧試驗(yàn)的因素以及不合格原因分析。

2023-06-15 14:28:59

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汽車(chē)金屬零件在制造過(guò)程中，可能會(huì)因?yàn)楣に噯?wèn)題或者材料質(zhì)量問(wèn)題而產(chǎn)生內(nèi)部缺陷。這些缺陷可能會(huì)導(dǎo)致零件在使用過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題，例如斷裂、磨損、漏水等，嚴(yán)重影響汽車(chē)的安全性和可靠性。因此，如何有效地檢測(cè)汽車(chē)金屬零件內(nèi)部缺陷成為了一個(gè)重要的問(wèn)題。

2023-06-15 14:28:45

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隨著信息技術(shù)的發(fā)展和電子產(chǎn)品的普及，電子元器件的質(zhì)量檢測(cè)及其認(rèn)證成為了一個(gè)重要的話題。電子元器件包括傳感器、晶體管、集成電路等，它們?cè)陔娮赢a(chǎn)品中扮演著重要的角色，但如果使用不當(dāng)，它們也可能會(huì)帶來(lái)安全隱患。因此，為了確保電子產(chǎn)品的安全性，電子元器件的質(zhì)量檢測(cè)及其認(rèn)證是必不可少的。

2023-06-14 15:45:57

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IC芯片是電子設(shè)備中不可或缺的關(guān)鍵組件之一，它們的質(zhì)量和性能直接決定了電子設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性。在購(gòu)買(mǎi)IC芯片時(shí)，很多人常常遇到一個(gè)問(wèn)題：如何判斷這個(gè)IC芯片是原裝還是翻新品？

2023-06-14 15:45:00

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無(wú)損檢測(cè)（Non-Destructive Testing，簡(jiǎn)稱NDT）是指在不毀壞被檢材料或構(gòu)件的前提下，通過(guò)對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)，以發(fā)現(xiàn)、判斷、評(píng)定和識(shí)別可能存在的缺陷或性能的變化的一種現(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)。其中，PT（Penetrant Testing）檢測(cè)是無(wú)損檢測(cè)的一種重要方法，它通過(guò)利用表面張力作用原理，將液態(tài)表面張力劑溶質(zhì)吸附到試件表面，通過(guò)顯色反應(yīng)檢測(cè)試件表面的裂紋、小孔等缺陷，具有高靈敏度、高可靠性和簡(jiǎn)便易行等特點(diǎn)。

2023-06-14 15:44:38

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